|專利侵害鑑定|著作權存證登記|

  中華保護智慧財產權協會專利侵害鑑定辦法
 

下載專利侵害鑑定申請書
  民國九十三年五月一日公佈實施
第一條:為辦理中華民國地區本國及外國人專利侵害鑑定,本辦法依本會
        章程第五條第一項第八款之規定訂定之。
第二條:本會受理專利侵害鑑定,所完成之鑑定報告係依經濟部智慧財產局于
        中華民國八十八年三月所頒行之「專利侵害鑑定基準」為依據。
第三條:凡辦理專利侵害鑑定應繳納文件及鑑定費用,悉依照本辦法規定辦理。
第四條:申請專利侵害鑑定之案件每筆應以一比對與被鑑定物為限,申請人
        所使用姓名或名稱應以戶籍登記之姓名或公司登記證所載名稱辦理。
第五條:本會受理專利侵害鑑定申請種類如下:
  一、 發明。
  二、 新型。
  三、 新式樣。   
第六條:本會受理專利侵害鑑定申請事由如下:
  一、專利申請前/中 鑑定
  二、專利侵害訴訟前/中 鑑定。
  三、產品研發/量產前確認。
第七條:申辦上述侵害鑑定,均應以書面並檢樣與資料向本會為之,併應由當事
        人詳實填具登記申請書(格式一),加以用印後,親自或或出具委任書
        (格式二),委任他人代辦。
第八條:外國法人辦理專利侵害鑑定申請時,所檢附之該公司登記資料,應在中    
華民國駐當地辦事代表處公證並譯成中譯本。
第九條:辦理各類專利侵害鑑定,應按件繳納鑑定費,鑑定報告每件計新台幣伍
        萬元整。以上侵害鑑定如有出庭作證之必要,每次庭期另收取新台幣伍
        仟元整。
第十條:本辦法如有未盡事宜,悉依本會章程及相關法令規定辦理。
第十一條:本辦法自公布日施行。
 
中華保護智慧財產權協會 版權所有 尊重智慧財產權請勿任意轉載作商業用途
Copyright 2005 Chinese Intellectual Property Protection Association. All right reserved